各種澱粉粒の電界放出形走査電子顕微鏡による観察(その2)酵素分解後のトウモロコシ澱粉ならびに ジャガイモ澱粉について

摘要

高分解能•高倍率下での観察が可能な電解放出形走査電子顕微鏡（FE-SEM)を用い，低加速電圧（2 kV,10kV)で酵素分解後の3種類のトウモロコシ澱粉粒（n-maize, waxy, high-amylose)ならびにジャガイ モ澱粉粒の状態を観察し，以下の結果が得られた.酵素分解後の3種類のトウモロコシ澱粉粒にはいずれも 層状構造が見られたが，層と層の間の幅はhigh-amylose200〜900nm, n-maize 30〜350 nm, waxy50〜350 nmでhigh-amyloseは他の2種類よりも広かった.また，n-maizeの層状構造におよそ25〜85 nmの突起が観 察され，さらに突起が連なって層を構成していることがわかった.waxyの層状構造には突起ははっきりと は認められなかったが,層と層の間にはおよそ30〜35 nmの突起が観察できた.high-amyloseの層にも突起 は認められなかったが，層と層の間に50〜90nmの小溜が観察された.また，パンクレアチンで48 h分解 後のジャガイモ澱粉粒（サッシーとインカのめざめ）の表面におよそ10~60nmの突起が観察された. 電界放出形走査電子顕微鏡（FE-SEM),澱粉粒; 表面構造; 酵素分解