机译:纳米级互连中尺寸相关的电阻率
Metallurgy Division, National Institute of Standards and Technology, Gaithersburg, Maryland 20899;
IMEC, High Tech Campus 31, 5605 KN Eindhoven, The Netherlands;
LMEC, Kapeldreef 75, B-3001 Leuven, Belgium;
size effects; electrical resistivity; nanowires; copper; interconnects; conductivity;
机译:通过温度相关电阻测量提取纳米级互连线的电阻率和面积
机译:基于氮化物的交叉开关阵列电阻式随机存取存储器中有源区的尺寸依赖性电阻开关特性
机译:低电阻率C54-TiSi
机译:对未来纳米级互连的评估:铜和铝线的电阻率
机译:研究用于IC互连应用的Cu上超薄Ag覆盖层的电阻率热系数的量子振荡。
机译:具有电阻互连的交叉开关存储阵列上的矩阵映射及其在生物信号的内存中压缩中的使用
机译:通过温度依赖性电阻测量提取纳米级互连线的电阻率和面积
机译:用于si光子互连的WDm纳米级激光二极管。