首页> 中文期刊> 《功能材料信息》 >可测量纳米级别尺寸的新型超精密尺子

可测量纳米级别尺寸的新型超精密尺子

         

摘要

据媒体报道,日本关西学院大学研发出一种以硬度仅次于钻石的碳化硅为主要材料的超精密尺子,可用于测量纳米级别的尺寸。碳化硅质地坚硬,很难加工,为此研究人员专门开发出一种新的加工技术。他们把碳化硅放入超真空环境中加热到约2000℃,再对其表面进行切削。

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号