机译:损耗硅衬底上片上互连的频率相关的线参数的精确闭式表达式
Dept. of Electr. & Comput. Eng., Oregon State Univ., Corvallis, OR, USA;
microstrip lines; inductance; capacitance; electric admittance; skin effect; eddy current losses; Green's function methods; coupled transmission lines; interconnections; equivalent circuits; transmission line matrix methods; accurate closed-form expr;
机译:损耗硅衬底上片上互连的频率相关的线参数的精确闭式表达式
机译:松散硅衬底上片上互连互连线耦合参数的闭式表达式
机译:导电硅衬底上单个片上互连的频率相关电感和电阻的精确解析表达式
机译:损耗硅衬底上片上互连的频率相关的线参数的精确闭式表达式
机译:准确高效地建模有损分层介质中的互连
机译:片上无线硅光子学:从可重新配置的互连到片上实验室设备
机译:有耗硅衬底上片上互连的宽带集总元模型