机译:使用X射线反射法和光谱椭偏法研究金纳米层的性能
Jan Kochanowski Univ Humanities & Sci, Inst Phys, Swietokrzyska 15, PL-25406 Kielce, Poland;
Jan Kochanowski Univ Humanities & Sci, Inst Phys, Swietokrzyska 15, PL-25406 Kielce, Poland|Holycross Canc Ctr, S Artwinskiego 3, PL-25734 Kielce, Poland;
Jan Kochanowski Univ Humanities & Sci, Inst Phys, Swietokrzyska 15, PL-25406 Kielce, Poland;
Jan Kochanowski Univ Humanities & Sci, Inst Phys, Swietokrzyska 15, PL-25406 Kielce, Poland|Holycross Canc Ctr, S Artwinskiego 3, PL-25734 Kielce, Poland;
Jan Kochanowski Univ Humanities & Sci, Inst Phys, Swietokrzyska 15, PL-25406 Kielce, Poland|Holycross Canc Ctr, S Artwinskiego 3, PL-25734 Kielce, Poland;
Jan Kochanowski Univ Humanities & Sci, Inst Phys, Swietokrzyska 15, PL-25406 Kielce, Poland|Holycross Canc Ctr, S Artwinskiego 3, PL-25734 Kielce, Poland;
Holycross Canc Ctr, S Artwinskiego 3, PL-25734 Kielce, Poland;
Jan Kochanowski Univ Humanities & Sci, Inst Phys, Swietokrzyska 15, PL-25406 Kielce, Poland;
Holycross Canc Ctr, S Artwinskiego 3, PL-25734 Kielce, Poland|Jan Kochanowski Univ Humanities & Sci, Inst Publ Hlth, Al 9 Wiekow Kielc 19, PL-25317 Kielce, Poland;
机译:光谱椭偏和光谱反射法结合研究的含SiO_x类金刚石碳膜的光学性能
机译:用光谱椭偏仪,X射线反射仪和X射线光电子能谱分析了41个镧基介电膜
机译:原子力显微镜并结合椭圆偏振光谱法和反射光谱法对粗糙多晶硅薄膜进行全面表征
机译:X射线反射仪和光谱椭圆仪的结合使用可表征薄膜的光学性能
机译:光谱反射法和椭圆偏振法测定固体薄膜的光学性能
机译:SwissFEL的贝尔尼纳实验站:通过X射线衍射和光谱法研究的飞秒时间尺度上的凝聚态物理学
机译:原子力显微镜,光谱椭圆形和反射测缝的自组装蛋白石结构的实验研究
机译:Nuclei exp 69 Ga,exp 69 exp 70 exp 71 exp 72 exp 73的性质由γ光谱法研究