机译:原子力显微镜并结合椭圆偏振光谱法和反射光谱法对粗糙多晶硅薄膜进行全面表征
Laboratory of Plasma Physics and Plasma Sources, Faculty of Science, Masaryk University, Kotlarska 2, 611 37 Brno, Czech Republic;
ellipsometry; reflection spectroscopy; optical properties; polymorphous materials;
机译:通过光谱椭偏仪,光谱反射仪和原子力显微镜对SiO_2 / Si系统进行完整的光学表征
机译:光谱椭偏和光谱反射法结合研究的含SiO_x类金刚石碳膜的光学性能
机译:结合原子力显微镜和椭圆偏振光谱法分析脂蛋白薄膜
机译:使用光谱反射率,椭圆偏振光谱和原子力显微镜表征界面层和表面粗糙度
机译:光谱反射法和椭圆偏振法测定固体薄膜的光学性能
机译:通过原位光谱椭圆偏振法在金属氧化物薄膜的等离子体增强原子层沉积过程中发现前体-表面相互作用
机译:硅上自组装层的结构:光谱变角椭圆仪,中子反射和原子力显微镜的组合使用
机译:光谱椭偏仪和干涉反射测量在氧化硅上生长的CVD硅