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Polychromatic X-ray effects on fringe phase shifts in grating interferometry

机译:多色X射线对光栅干涉仪中条纹相移的影响

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摘要

In order to quantitatively determine the projected electron densities of a sample, one needs to extract the monochromatic fringe phase shifts from the polychromatic fringe phase shifts measured in the grating interferometry with incoherent X-ray sources. In this work the authors propose a novel analytic approach that allows to directly compute the monochromatic fringe shifts from the polychromatic fringe shifts. This approach is validated with numerical simulations of several grating interferometry setups. This work provides a useful tool in quantitative imaging for biomedical and material science applications.
机译:为了定量确定样品的投影电子密度,需要从在光栅干涉仪中使用非相干X射线源测量的多色条纹相移中提取单色条纹相移。在这项工作中,作者提出了一种新颖的分析方法,该方法可以直接从多色条纹偏移中计算出单色条纹偏移。通过几种光栅干涉测量设置的数值模拟验证了该方法。这项工作为生物医学和材料科学应用的定量成像提供了有用的工具。

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