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Gate control of the electron spin-diffusion length in semiconductor quantum wells

机译:半导体量子阱中电子自旋扩散长度的门控

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摘要

The spin diffusion length is a key parameter to describe the transport properties of spin polarized electrons in solids. Electrical spin injection in semiconductor structures, a major issue in spintronics, critically depends on this spin diffusion length. Gate control of the spin diffusion length could be of great importance for the operation of devices based on the electric field manipulation and transport of electron spin. Here we demonstrate that the spin diffusion length in a GaAs quantum well can be electrically controlled. Through the measurement of the spin diffusion coefficient by spin grating spectroscopy and of the spin relaxation time by time-resolved optical orientation experiments, we show that the diffusion length can be increased by more than 200% with an applied gate voltage of 5 V. These experiments allow at the same time the direct simultaneous measurements of both the Rashba and Dresselhaus spin-orbit splittings.
机译:自旋扩散长度是描述自旋极化电子在固体中的传输性质的关键参数。半导体结构中的电自旋注入是自旋电子学中的一个主要问题,它主要取决于该自旋扩散长度。自旋扩散长度的栅极控制对于基于电场操纵和电子自旋传输的器件的操作可能非常重要。在这里,我们证明了GaAs量子阱中的自旋扩散长度可以被电控制。通过用自旋光栅光谱法测量自旋扩散系数和通过时间分辨光学取向实验测量自旋弛豫时间,我们发现,在施加5 V的栅极电压时,扩散长度可以增加200%以上。实验允许同时直接同时测量Rashba和Dresselhaus自旋轨道分裂。

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