一种半导体中电子自旋有效寿命的连续单光束测试方法

摘要

一种半导体中电子自旋有效寿命的连续单光束测试方法，使用连续单激光束、偏振片、1/2和1/4波片、偏振分束棱镜、衰减片、平衡光探测器和可变磁场，组成附图所示实验测量光路。连续单激光束既激发半导体中电子自旋极化，又测试自旋极化感应的法拉第效应和圆二色吸收效应。实验装置简单，造价低廉。实验上测试法拉第转角或圆二色吸收随磁场强度的变化曲线，并用发展的理论模型拟合此变化曲线，就能获得电子自旋的有效寿命。