【2h】

Electron-Impact Total Ionization Cross Sections of CH and C2H2

机译:CH和C2H2的电子碰撞总电离截面

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摘要

Electron-impact total ionization cross sections for the CH radical and C2H2 (acetylene) have been calculated using the Binary-Encounter-Bethe (BEB) model. The BEB model combines the Mott cross section and the asymptotic form of the Bethe theory, and has been shown to generate reliable ionization cross sections for a large variety of molecules. The BEB cross sections for CH and C2H2 are in good agreement with the available experimental data from ionization thresholds to hundreds of eV in incident energies.
机译:CH自由基和C2H2(乙炔)的电子碰撞总电离截面已使用Binary-Encounter-Bethe(BEB)模型进行了计算。 BEB模型结合了Mott横截面和Bethe理论的渐近形式,并已显示出可为多种分子生成可靠的电离横截面。 CH和C2H2的BEB横截面与从电离阈值到入射能量的数百eV的可用实验数据非常吻合。

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