首页> 中文期刊> 《传感器与微系统》 >非本征F-P腔光纤传感器膜片材料仿真分析

非本征F-P腔光纤传感器膜片材料仿真分析

     

摘要

研制了石英膜片的非本征法布里—珀罗(F-P)腔光纤传感器,用于强磁场和高电压环境的超声波检测,并对超声波信号进行测量.通过ANSYS对不同材料的膜片进行有限元仿真分析,得出各自的灵敏度、响应频率与膜片半径之间的关系,并选择性能适合的膜片材料研制了光纤传感器.通过设计解调系统,使用石英材料膜片的传感器测试超声波信号的频率,并对测得的信号与压电传感器测得信号进行对比分析.仿真结果表明:在相同半径和厚度的不同材料膜片下,石英玻璃材料的固有频率和灵敏度相对适中.实验测得压电传感器超声波频率为33 kHz,F-P腔光纤传感器测得频率为31.3 kHz,2种传感器测得数据相近,实验表明:石英材料适合作为非本征F-P腔光纤传感器的膜片材料.

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号