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Dr.Uwe Scheuermann;
赛米控产品可靠性经理;
统计方法; 并联; IGBT模块; 芯片; 最坏情况分析; 续流二极管; 变化参数; 元件参数;
机译:最坏情况复杂性的新视角:一种统计方法
机译:外部电磁平面波在数字和模拟芯片间互连中引起最坏情况的干扰—第一部分:建模和算法
机译:外部电磁平面波在微带线芯片互连中引起最坏情况的干扰—第二部分:分析和验证
机译:筹码并行化-从经典的“最坏情况”考虑到统计方法
机译:在存在伯克森和经典测量误差的情况下进行生物剂量测定的统计方法。
机译:英国白皮书的目标可以在不帮助最坏情况的情况下实现
机译:芯片上的光学跨界,基于最坏情况损失的比较研究
机译:欧氏空间中组合优化的经典问题的概率和最坏情况分析
机译:用于模拟最坏情况争用以确定在处理器上执行的应用程序的最坏情况执行时间的系统和方法
机译:从snp数据预测经典Hla等位基因的新统计方法
机译:SIMD型并联算术装置,SIMD型并联算术芯片,SIMD型并联算术方法及包括SIMD型并联算术装置和半导体芯片的装置
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