首页> 中文期刊>科技纵览 >LED加速老化测试及寿命预测方法研究

LED加速老化测试及寿命预测方法研究

     

摘要

LED作为“第四代新光源”,具有理论寿命长、发光效率高、能耗低等特点,已逐渐进入普通照明领域,市场份额逐年增加。LED的理想预期寿命超过5万小时,但目前实际寿命与之相去甚远,严重影响了LED的大规模应用,而LED的可靠性测试及寿命预测是解决这一问题的关键。可靠性测试可以帮助LED生产厂家及时发现LED产品的设计缺陷以及影响其实际寿命的原因,从而对LED产品进行优化,延长其实际使用寿命。

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号