老化测试

摘要： 随着现代化电子科学技术的迅猛发展,电子产品细致化程度不断升高,结构逐渐细化、工序逐渐增加、制造工艺逐渐复杂,由此在生产制造环节埋下了一系列隐患。一个良好的电子产品,不仅需要在性能层面具备较高的指标,同时还需要拥有较好的稳定性能,当前国内外普遍应用高温老化工艺,提高电子元器件的可靠性以及稳定性。该文主要针对电子元器件展开的老化测试工作进行论述,然后基于此,对新型设备展开研究,以供参考。

摘要： 采用由盐雾老化单元和电晕老化单元组成的多因素电晕老化系统模拟沿海环境,对硫化硅橡胶的疏水性、表面电阻率和介电性能进行了研究。结果表明,表面盐沉积的增加会加剧硅橡胶材料的电晕老化性能。老化程度可以通过疏水性、表面电阻率和介电性能来表征;电晕放电会在硅橡胶材料的浅层产生微结构缺陷,在老化过程中,水分和盐分会渗入浅层,导致表面电阻率下降;介电特性(tanδ和ε')与盐层水平呈正相关。盐沉积主要影响介质在低频(<1 kHz)的电导损失和界面极化,在高频(≥1 kHz)的极化特征中影响不大。在沿海环境下,盐层的增加会加剧硅橡胶材料的电晕老化。

摘要： 通过对相关筛选工作经验的总结,提出一种用于电子器件的加速带电老化测试装置,在此基础上设计了电子元器件的专业筛选方法和质量控制方法,旨在通过电子元器件老化筛选测试保证电子设备的质量和可靠性。

摘要： 随着半导体行业的飞速发展,芯片设计与制造、芯片封装的国产化趋势在加速,芯片公司越来越多,对芯片的可靠性要求越来越高.芯片的性能是否稳定可靠,是决定产品可靠性与性能优劣的关键因素.目前国产芯片与某些进口芯片相比,质量与可靠性水平还相差较大.要使芯片组装出可靠性水平较高的产品,除在设计及制造时采取一系列保证措施外,还须充分重视芯片的老化失效筛选这一关键环节.该文针对影响老化测试可靠性的因素进行深入研究,通过分析实验数据不难发现光功率测量的准确性和芯片温度的稳定性对老化测试可靠性影响极大.该文以这两个方向为突破口实施优化,优化后光功率测量的准确性可以达到98％,芯片温度的稳定性保证在±0.5°C以内.与此同时将更换老化夹具和优化工艺流程,将四通道老化转型为单通道老化,使其老化测试工序的合格率提升20％,大大降低生产成本.

摘要： 分析表明,新能源以及无人驾驶汽车的迅速发展,车规芯片的作用愈加重要,这是芯片产业应用的一重要方向。阐述集成电路设计公司进入车规芯片领域的相关验证流程及规范标准,车规芯片的相关可靠性验证以及失效分析,探讨了车规芯片量产化的零缺陷目标,分析国内车规芯片发展中存在的问题与其局限性,展望发展方向。

摘要： 公司设计了一款SiP(System In Package)电路。该电路包含DSP裸芯、FPGA裸芯、FPG A配置裸芯、SPI FLASH存储裸芯和一些滤波电容。为配合电路后续生产测试,需要设计出一整套的测试系统。测试主要包含接性测试、ATE(Automatic Test Equipment)测试、老化测试。一旦电路通过以上测试,即认为SiP电路的基本功能和性能是良好的。

摘要： 为了在短时间内凸显定制触摸显示屏的质量问题,一般在出厂前都需要对检查正常的定制屏批量进行8小时至24小时不等的持续点亮老化测试,测试过后再次检查整个定制屏是否出现显示异常.提供四种高效的改进设计方案对定制屏进行老化测试,大大提高了测试效率,并节约了开发成本、维护成本及生产线的人工成本.

摘要： 基于对流传热理论,使用Flotherm建立老化炉热流场模型;选择合理的因素水平,通过正交试验,进行数值仿真及极差分析,获得较优水平组合;通过实测温度与优化前的温度进行比较分析.结果表明:温度场分布均匀度比原来提高56.1％,验证了数值模拟的可行性和优化方案的有效性.

摘要： cqvip:公司设计了一款SiP(System In Package)电路。该电路包含DSP裸芯、FPGA裸芯、FPG A配置裸芯、SPI FLASH存储裸芯和一些滤波电容。为配合电路后续生产测试,需要设计出一整套的测试系统。测试主要包含接性测试、ATE(Automatic Test Equipment)测试、老化测试。一旦电路通过以上测试,即认为SiP电路的基本功能和性能是良好的。

摘要： 数字化加速转型,包括5G智能手机、笔记本台式机及平板、服务器、人工智能及云端高性能(AI/HPC)应用出货旺盛至年底,带动相关芯片持续供不应求且价格不断上涨。另外,新规格芯片扩大在代工厂的投片规模,预计同步拉高IC测试板厂商业绩。据相关业界预测,在新一代5G手机芯片、中央处理器(CPU)、图像处理器(GPU)、WiFi6/6E网络芯片、人工智能(AI)加速器、高性能计算(HPC)芯片等开始放量投片,对晶圆或IC测试板、晶圆探针卡、IC老化测试载板等产品需求急速升温,业内厂商业绩在第三季度将持续增长。

摘要： 目前的IEC和国标老化测试条件与户外实际应用情况存在差异;封装材料/组件的室内加速老化评估测试时建议尽量使用综合老化测试、序列老化测试，这样的评估结果更接近现实情况也更加准确;为了保障电站25年以上使用寿命，建议光伏组件使用双面含氟背板。

摘要： 针对船舶可燃气体传感器老化测试系统的需求,以工控机为核心开发传感器老化测试系统,该系统能够自动控制测试气体的体积分数、标准气体通入间隔时间,对传感器的响应信号进行数据采集,生成每个传感器的老化测试记录,并打印传感器标签.

摘要： 集成电路(IC)老化测试插座(以下简称老化测试插座)主要应用于集成电路产品的检测、老化、筛选等场合,其最大的用户是集成电路器件制造厂.本文对集成电路老化测试插座的结构形式做一简单的介绍.

摘要： 无线电能传输技术具有安全、灵活、可靠性高、易维护的优点.本文针对显示模组在老化测试过程中,显示模组老化测试设备采用电刷供电方式造成导轨上的供电设备和显示模组之间接触不良甚至打火现象,进而导致轨道上的个别电刷点损坏无法给显示膜组供电;在模组测试设备采用电刷供电中的打火现象存在严重的安全隐患.基于现有模组测试设备中存在的问题,无线电能传输技术在老化显示模组测试设备中的使用可以避免电刷设备中的一些不司靠和不安全因素,使老化显示模组测试设备高效,安全,稳定的运行,使用寿命更长.

摘要： 在相关性和加速性上要达成妥协，通常更快的测试相关性可能都不太好。加速因子达到10或最高，通常都是极端的材料或环境条件，没有通用的加速因子，没有通用的相关系数。相关系数最好凭经验使用周所周知的统计学方法，并且要当材料已经显示出相当程度的降解之后。两个测试如都没有导致一系列材料充分的测试值变化，不意味着两个测试就相关；两个测试都导致了材料失效但未进行评估，不意味着两个测试就相关。

摘要： 电力电缆敷设在电缆沟或直接埋于地下,运行环境相对较为恶劣,电缆在电、热、机械外力、水、油、有机化合物、酸、碱、盐及微生物作用下,常常发生老化;在一个绝缘系统中,老化因素可以使材料的特性产生不可逆转的改变,并可能影响到绝缘性能.地下电缆一旦发生故障,寻找起来十分困难,不仅要浪费大量人力物力,而且还将带来难以估计的停电损失,因此对电力电缆整体绝缘老化的研究有着重要的意义.本文阐述了通过电缆介损测试对整体老化程度进行评估的工作原理,并开展了实际的现场试验,并对试验数据进行了分析,结合IEEE标准给出电力电缆绝缘整体老化评价结果,实现对电力电缆实际运维的技术支撑.

摘要： 本文阐述了一种可以将交流或直流电源的输出,回馈送入电网的设备,利用并网原理,采用DSP控制,实际制作了样机,实际测试了相关波形。本系统充分利用交流能源,可广泛用于电池放电测试,直流电源、交流电源等设备的老化测试等,对节能减排具有重要意义。

摘要： 首次采用分光光度计研究了PVC糊树脂和硬质PVC在热氧老化过程中的变色现象,并与目视比色法进行了比较.结果表明,分光测色仪测定的PVC老化样品的黄度值、色深值及色差可以很好衡量PVC老化程度,因此分光测色仪可作为PVC糊制品和PVC硬制品的有效表征手段.进一步从目视比较法和分光光度计法研究结果的比较可以看出,分光光度计法是一种对PVC热氧老化过程变色现象定量表征的有效手段,是对目视比色定性研究的有力补充.

摘要： 高分子材料老化的因素主要是气候条件(ALTAS)，包括高紫外,高温,高湿,高盐雾,高冷热和雨水冲击.海南琼海测试站，最近十年紫外辐射大约86 KWH/m2，湿度在86%，组件高温接近80°C。所以，大约3~5年户外空气面直接曝晒，可以完全推断25年背面的使用状况。

摘要： 高分子材料老化的因素主要是气候条件(ALTAS)，包括高紫外,高温,高湿,高盐雾,高冷热和雨水冲击.海南琼海测试站，最近十年紫外辐射大约86 KWH/m2，湿度在86%，组件高温接近80°C。所以，大约3~5年户外空气面直接曝晒，可以完全推断25年背面的使用状况。

摘要： 本发明公开了一种半导体存储器老化测试设备中老化测试板卡散热供气装置，包括连通至隔热腔体的老化测试板卡侧接头组件以及气源侧接头组件，气源侧接头组件包括同轴设置的堵头、压缩弹簧、气源密封座及气管接口，堵头及压缩弹簧设置在气源密封座中，压缩弹簧受压设置在堵头与气管接口之间，气源密封座与气管接口固定连接，老化测试板卡侧接头组件在连接时对堵头施加与压缩弹簧相反的力，老化测试板卡侧接头组件与气源侧接头组件的接触端面之间设置有第一密封圈。本发明采用老化测试板卡侧接头组件与气源侧接头组件进行插入配合并用密封圈进行密封，确保隔热效果；本发明采用压缩弹簧结构，机构失效率较低，提升整体的结构性能及工作寿命。

摘要： 本发明公开了一种老化测试电路、老化测试系统及老化测试方法。其中，老化测试电路包括：接口模块、开关模块和主控模块。接口模块用于与多个待测设备电连接，待测设备用于生成接入状态信号；主控模块的第三端口用于获取接入状态信号，主控模块用于根据接入状态信号生成读卡信号和切换信号；待测设备用于根据读卡信号生成测试信号，开关模块用于根据切换信号分别切换主控模块的第一端口与多个待测设备的连接状态，主控模块用于根据测试信号进行老化测试操作。本发明的老化测试电路能够同时连接多个待测设备以进行老化测试操作，简化了测试的操作流程，从而提高了测试效率。

摘要： 本发明提供一种在使用于老化测试插座用的触头时，能良好地抑制该插座的触头与插入的其他金属材料的接触电阻的老化测试插座用表面处理金属材料。该老化测试插座用表面处理金属材料具备：基材；形成在基材上的由从由Ni、Cr、Mn、Fe、Co及Cu组成的组即A结构元素组中选择的一种或两种以上构成的下层；形成在下层上的由从A结构元素组中选择的一种或两种以上和从由Sn及In组成的组即B结构元素组中选择的一种或两种构成的中层；以及形成在中层上的由从B结构元素组中选择的一种或两种与从由Ag、Au、Pt、Pd、Ru、Rh、Os及Ir组成的组即C结构元素组中选择的一种或两种以上的合金构成的上层，下层的厚度为0.05μm以上且小于5.00μm，中层的厚度为0.01μm以上且小于0.40μm，上层的厚度为0.02μm以上且小于1.00μm。

摘要： 本发明提供用于老化测试机的测试板的导热部件、测试板和老化测试机。导热部件包括平板状的本体以及从本体的底侧凸出的接触按压部；其中，导热部件还包括设置在本体的顶表面上的第一热界面材料层。根据本发明的用于老化测试机的测试板在更换热界面材料层时无需拆卸和重新安装热阵列组件，提高了整个测试单元的开机工作效率。

摘要： 本申请公开了一种老化测试方法、视频图像信号发生器以及屏幕老化测试装置，用于对放置在老化炉内的一个或多个显示面板进行老化测试；所述显示面板中存储有测试所需的一张或多张测试图片；该方法包括：按照预设的通信协议生成切图指令并将其下发给显示面板，通过所述切图指令控制显示面板选择对应的测试图片并进行显示；本发明视频图像信号发生器在测试过程中仅下发低速的切图指令给显示面板，传输信号线可以延长，因此视频图像信号发生器可以不放在老化炉内，同样尺寸的老化炉内能够同时测试的显示面板的数量极大增加，提高的测试效率。

摘要： 本发明公开了一种老化测试接口扩展模块和老化测试系统，包括SPI总线、IIC总线、IO扩展芯片、译码器和第一缓冲寄存器；SPI总线和IIC总线用于与老化测试设备连接，IO扩展芯片与IIC总线连接，译码器与IO扩展芯片连接，第一缓冲寄存器与译码器和SPI总线的CS端口连接，且用于与从设备的CS端口连接；其中，IIC总线控制IO扩展芯片和译码器产生用于切换从设备的使能信号，使能信号控制从设备选通；SPI总线与选通从设备通信。本发明的老化测试接口扩展模块电路原理简单，容易实现，硬件成本较低；只需要一路SPI和一路IIC控制总线即可，驱动能力强，多路带载后仍能保持高效稳定运转，可轻松实现SPI总线上达到上百个从设备挂载，拓展接口数量多；可拓展性强。

摘要： 本发明公开一种高温老化测试系统及高温老化测试方法，涉及芯片测试领域，以解决现有的高温老化测试中成本高、周期长以及测试数据异常时不能及时同步，影响高温老化测试的可靠性和稳定性的问题。所述高温老化测试系统包括：分别两两连接的主控装置、老化控制装置和芯片验证装置。主控装置控制老化控制装置对待测芯片进行升温处理，实时获取待测芯片在目标温度下的第一老化参数。控制芯片验证装置对待测芯片的供电电压进行升压处理，实时获取待测芯片在目标供电电压下的第二老化参数。基于第一老化参数和第二老化参数确定老化测试结果。监测待测芯片在升温处理和升压处理中对应的芯片参数，当芯片参数不满足预设芯片参数时，生成警示信息。

摘要： 本申请公开了一种老化测试电路、老化测试装置以及老化测试系统，通过循环控制模块，在第一时长内循环老化进程，老化进程包括持续第二时长输出第一导通信号和持续第三时长停止输出第一导通信号；开关模块在输入第一导通信号时转接电源电压；N个LED接收卡模块在输入电源电压时显示老化N个LED模组，以及当停止电源电压时断电老化N个LED模组；从而实现对N个LED模组在第一时长内进行循环第二时长的显示老化和第三时长的断电老化，使N个LED模组的老化测试过程与之实际通断电的真实使用场景相近，从而更好地在老化测试过程发现N个LED模组在真实使用时出现的元件不良问题。

摘要： 本实用新型公开了一种老化测试装置、老化测试治板及老化测试机柜，老化测试装置包括：主控模块、第一网口模块和第二网口模块、数据交换模块、POE供电及DC输出模块、DC‑DC转换模块和DC电源接口。老化测试治板包括：基板和安装在基板上的老化测试装置。老化测试机柜，包括柜体，柜体内设置有多个安装层，安装层内分别安装老化测试治板。老化测试装置和测试设备都无需连接传统的插座进行供电，能够减少布线，更好的利用老化房的使用空间，提高同时进行老化测试的设备数量，也能更好的实现老化的效果。

摘要： 本实用新型公开了一种MTK板的老化测试装置，包括：降压模块及用于控制MTK板开关机直到开机失败或开机次数达到测试次数的主控模块；所述主控模块的控制端与所述MTK板的受控端连接，所述主控模块的通信端与所述MTK板的通信端连接，所述主控模块的电源输入端与所述降压模块的电源输出端连接，所述降压模块的电源输出端还与所述MTK板的电源输入端连接，所述降压模块的输入端与供电端连接。能够确定MTK板的老化状态，进而选出不良的MTK板，从而有效保证医疗设备的良品率和稳定性。