存储器测试算法及诊断覆盖率研究

摘要

随着微电子技术的快速进步,半导体集成电路高速发展,新的存储器测试技术也不断更新。文章描述了存储器的经典测试算法运算过程,并分析了其原理。在研究经典测试算法的基础上,吸收经典算法的思想,比较各种不同算法的优缺点,改进测试算法,以便在实际检测中能够减少测试所需要的时间,提高故障诊断覆盖率,达到比较满意的测试效果。