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依据测试粒度决定存储器测试覆盖率的系统及其方法

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摘要

本发明公开一种依据测试粒度决定存储器测试覆盖率的系统及其方法，其通过依据测试粒度产生存储器定址序列后，将所产生的存储器定址序列转换为相对应的物理地址，并依据所产生的物理地址对存储器的全部或部分进行测试的技术手段，可以有效控制存储器的测试覆盖率，并达成提高存储器测试效率的技术功效。

法律状态公告日

法律状态信息

法律状态
2020-05-15

发明专利申请公布后的撤回 IPC(主分类):G11C29/56 申请公布日:20180525 申请日:20161108

发明专利申请公布后的撤回
2018-06-19

实质审查的生效 IPC(主分类):G11C29/56 申请日:20161108

实质审查的生效
2018-05-25

公开

公开

1. 依据测试粒度决定存储器测试覆盖率的系统及其方法 [P] . 中国专利： CN108074623A . 2018-05-25
2. 覆盖率测试处理方法、装置、覆盖率测试服务器及系统 [P] . 中国专利： CN103095518A . 2013-05-08
3. System For Deciding Memory Test Coverage Based On Test Granularity And Method Thereof [P] . 美国专利： US2018130545A1 . 2018-05-10

机译：基于测试粒度的内存测试覆盖率确定系统及其方法
4. Memory system, memory test system and method of testing memory system and memory test system [P] . 美国专利： US8750061B2 . 2014-06-10

机译：存储器系统，存储器测试系统以及测试存储器系统的方法和存储器测试系统
5. MEMORY SYSTEM, MEMORY TEST SYSTEM AND METHOD OF TESTING MEMORY SYSTEM AND MEMORY TEST SYSTEM [P] . 美国专利： US2012002495A1 . 2012-01-05

机译：存储器系统，存储器测试系统以及存储器系统和存储器测试系统的测试方法