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数字电路可测性设计的一种故障定位方法

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摘要

在逻辑函数Reed-Muller模式的电路可测性设计方面,文章采用AND门阵列和XOR门树结构来设计电路,提出了一种设计方案,可实现任意逻辑函数的功能,而且所得电路具有通用测试集和完全可故障定位的特点.给出了进行故障定位的方法,并可把它应用于其他相关电路的可测性设计.

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来源
《中国工程科学》|2002年第1期|69-74|共6页
作者
潘中良;
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作者单位

华南师范大学物理系,广州,510631;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类逻辑电路;
关键词
逻辑函数; 数字电路; 可测性设计; 故障定位; 单故障;
入库时间 2022-08-17 16:50:20

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