淬火CuZnAl合金的正电子湮没寿命谱

摘要

本文分析了９００℃、７５０℃和７００℃淬火后Ｃｕ－２３ａｔ．％Ｚｎ－１０ａｔ．％Ａｌ合金试样的正电子湮没寿命谱，其中长寿命τ２始终维持在１８５ｐｓ左右的数值，表明该合金淬火后保留有大量的单空位，母相态下尽快消除这些空位有助于避免和改善铜基形状记忆合金的热弹马氏体稳定化现象。