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曹国琛; 胡才雄; 蔡仲麟; 吕春鸿; 沈火根; 张树清; 金胜祖;
上海有色金属研究所;
吸除; 硅; 外延片; 电性能; 电阻率; 半导体;
机译:族非通用Z'对{bar B_q}-{B_q}混合的影响,B→Xn n sn nμn+ nμn-和Bn n sn→μn+ nμn-衰减
机译:稀有衰变的初步观察Bn +→Kn + nπn+ nπn-nμn+ nμn-和Bn +→ϕKn + nμn+ nμn-
机译:铈对稀土Mg-Ni吸氢合金吸氢解吸性能的影响
机译:硅(Si)和低温退火对镍(Ni)和铁(Fe)污染物对胆(70/30)黄铜的拉伸性能的综合影响
机译:硅粉和粉煤灰对高强度混凝土微观结构和性能的综合影响。
机译:硅壳厚度对涂覆硅的垂直排列碳纳米纤维作为锂离子电池阳极性能的影响的模拟
机译:N+注入硅RTA样品的蓝绿光发射
机译:硅,氮和氧对ZIRCaLOY-2的腐蚀和吸氢性能的影响
机译:硅外延片和硅外延片杂质吸收能力的评估方法
机译:硅外延片的制造方法,硅外延片和固态成像装置的制造方法
机译:生产硅外延片的方法及硅外延片
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