原子力显微镜在纳米测量技术中的应用

摘要

纳米测量技术作为21世纪计量测试领域研究的重点，一直深受国内外专家的关注。原子力显微镜（AFM）在其研究过程中一直发挥着非常重要作用。论文根据纳米测量所涉及的两个重要领域：纳米长度测量和纳米级的表面轮廓测量，以及在实验教学过程中的教学实践，列举了AFM在纳米测量技术教学中的运用案例。实践证明，AFM在实验教学中起到了非常重要的作用，它能促进学生对课程的学习兴趣，同时又能帮助学生加强对抽象概念的理解，从而增强学生的应用能力。