基于电路分块的超大规模集成电路测试技术研究

摘要

院由于现有的测试技术在VO4端振幅为-15~25 cm,与实际值不符,不能检测出故障,研究基于电路分块的超大规模集成电路测试技术。运用超图分解来进行电路分块,通过原始输入到各个子电路的输入,使得不同子电路的输出值都能够得到敏化。运用并行遗传方法将原始电路按照节点的数量进行划分与分配,定期对种群中适应度最优个体进行传输。根据集成电路的布局,对芯片性能变化因素添加一定的约束。通过特定的测试向量生成电路生成,并根据测试长度来计算故障覆盖率,判断不同方法中的故障覆盖率大小。实验结果表明,在VO4端的振幅为-10~10 cm,与实际值完全一致,能够符合集成电路测试需求。