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半导体器件自适应测试参数调节

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本文根据生产中实际案例,在DFT设计的基础之上,为Intel公司65nm NOR闪存芯片的一种特珠失效模式设计了一种独特的测试方法,同时提出了测试参数根据产品本征特性自适应调节的概念.

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来源
《科技资讯》 |2009年第5期|80|共1页
作者
乐其中;
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作者单位

上海交通大学电子信息与电器工程学院,上海,200240;

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正文语种 chi
中图分类半导体技术;
关键词
测试; DFT; 自适应; 测试效率及有效性;

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