退出
我的积分:
中文文献批量获取
外文文献批量获取
徐川; 付恩刚; 楼建玲;
北京大学物理学院核物理与核技术国家重点实验室;
背散射分析; SIMNRA; 深度分辨率; 注入剂量; 深度分布;
机译:Si-NMOSFET频道杂质浓度,背散射系数和通道Si膜厚度依赖性的载体热速度计算 -
机译:背散射电子成像表征聚偏二氯乙烯珠上胶乳涂层的厚度和分布
机译:涂膜薄膜厚度测量和管理方法的研究。1:使用反弹型硬度计测量氨基甲酸酯橡胶涂膜薄膜厚度的方法
机译:基于模型的杂质分布的杂质分布在由边缘定义的薄膜喂养生长技术从熔体生长的杂质分布
机译:HTS YBCO薄膜中临界电流密度的厚度依赖性机理及其纳米工程消除方法。
机译:确定溶液沉积厚度的新方法石墨烯薄膜
机译:\ textit {n} - 和\ textit {p}型ZnO薄膜的光学特性 - 杂质分布不均匀性的两种不同方法
机译:用于从太阳背散射紫外辐射的模拟卫星测量中检索大气臭氧分布的统计推断方法
机译:一种测量系统,用于测量和存储数据确定的位置,该位置与所选连续区域上的材料厚度分布有关。在所选连续区域上测量待测对象材料中整体厚度分布的过程。用于在选定的连续区域上测量待测物体的材料中整体厚度分布的设备。声传感器,用于发送和接收用于测量材料厚度的声信号,以及用于在三维空间自动定位的系统声信号传播介质均匀
机译:用于确定双扁平化的薄膜幅材的厚度分布系统的方法和设备,用于调节双扁平化的薄膜幅材的膜厚分布的方法,调整膜厚度分布的方法的使用以及用于生产双扁平化的吹塑薄膜设备电影网
机译:用于在待选物体的连续区域上测量待测材料的厚度分布的方法以及用于在待选物体的连续区域上测量待测物体的材料中的总厚度分布的设备
抱歉,该期刊暂不可订阅,敬请期待!
目前支持订阅全部北京大学中文核心(2020)期刊目录。