用光谱分析进行低硅钒钛生铁的质量控制研究

摘要

通过使用X射线衍射仪(XRD)及扫描电子显微镜(SEM)对光谱分析用的控制样品进行相分析和显微分析,同时对光谱控制样品的取样、组织和结构等方面也进行了研究,以保证光谱分析量值传递的规范、严谨,确保光谱分析的准确性。