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黄振华; 张建军; 倪牮; 李天微; 曹宇; 王昊; 赵颖;
南开大学光电子薄膜器件与技术研究所;
光电信息技术科学教育部重点实验室;
光电子薄膜器件与技术天津市重点实验室;
天津300071;
微晶硅锗(μc-Si1-xGex; H); 光学常数; Swanepeol法; ASA;
机译:扫描透射电镜测定化学气相沉积硅锗薄膜中磷和锗向晶界的偏析
机译:利用光谱透射系数确定介电薄膜的光学常数
机译:通过透射光谱测定非晶作为{Sub} 2S {Sub} 3薄膜的非线性光学常数
机译:(非晶硅锗/纳米晶硅)超晶格薄膜硅太阳能电池。
机译:挠性不锈钢上的径向n-i-p结构基于SiNW的微晶硅薄膜太阳能电池
机译:从透射率数据确定非晶硅薄膜的厚度和光学常数
机译:拉曼,透射电子显微镜和分子束沉积微晶硅和锗的电导率测量。比较研究
机译:薄膜太阳能电池及其制造方法,其中包括微晶硅锗的内在层
机译:非晶硅氢化锗或锗半导体薄膜的制备
机译:确定多晶材料中微晶的伸长量,晶格参数和/或取向矩阵涉及基于原子位置使用待测微晶和参考微晶的图像
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