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塑料膜厚的激光测定

         

摘要

利用双光路补偿原理,测定同品种被测薄膜与参考薄膜的相对透过率差,得到被测膜厚。对若干品种薄膜进行了测定,精度已满足生产工艺的要求。

著录项

  • 来源
    《光电子.激光 》 |1984年第3期|15-18|共4页
  • 作者

    石秉仁; 沈桥;

  • 作者单位

    南京市新技术应用研究所;

  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 chi
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