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徐均琪; 冯小利;
西安工业大学,光电工程学院,西安,710032;
薄膜; 厚度; 光学常数; 椭偏测量;
机译:通过同时进行反射率,透射率和椭偏测量来确定薄膜和多层堆叠的光学常数
机译:DC溅射光学常数衍生的ITO,TiO 2 CE:INF>和TIO 2 CE:INF>:表征NB薄膜 通过分光光度法和光电器件的光谱椭偏测量
机译:二氧化钒薄膜的热可调光学常数,通过光谱椭偏法测量
机译:椭偏成像法测量多孔硅的光学常数
机译:基于光谱椭偏法的氢化硅薄膜太阳能电池的生长表征和光学建模。
机译:自交联壳聚糖/藻酸盐的结构研究原位QCM-D和光谱法的二醛多层膜椭偏仪
机译:直流溅射的光学常数来源于ITO,TiO2和TiO2:Nb薄 用分光光度法和光谱椭偏仪测定的薄膜 光电器件
机译:利用光谱椭偏仪和离子散射及反射光谱法对复合氧化物薄膜中氧的掺入进行原位实时研究
机译:使用封闭式公式和反射椭偏法确定吸收介质中吸收膜吸收基底系统的基底光学常数和膜厚的方法和智能设备
机译:光谱椭偏仪通过将偏振光照射到物体上来精确测量基材的薄膜或光学常数的厚度
机译:使用光谱成像和椭偏法的椭偏仪
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