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任迪远; 余学锋;
中国科学院;
集成电路; 总剂量; 辐射效应; 退火;
机译:线性双极集成电路中的总剂量效应
机译:结型场效应晶体管和相关线性集成电路中总剂量损伤的增强
机译:传统双极晶体管和线性集成电路中的总剂量效应
机译:逻辑系列和线路界面中各种商业集成电路的辐射总剂量和单一事件效应
机译:低压差稳压器中总剂量效应的分析
机译:低温下红外图像传感器读出集成电路单事件效应辐射硬度保证的更新
机译:大规模集成电路电源电流的总剂量效应
机译:电子辐射硬度保证技术研究。第二卷,第二部分。电离辐射率和总剂量效应的电子筛选。
机译:CMOS器件针对总剂量辐射效应进行了硬化
机译:CMOS器件克服了总剂量辐射效应
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