国产无源效率刻度软件在HPGeγ谱仪上应用及评价

摘要

介绍了一款国产无源效率刻度软件的性能指标,以及用该软件对一套HPGe探测系统进行无源效率刻度应用情况.实验中,利用4个可溯源薄膜点源和2个可溯源的圆柱体体源对该探测系统进行有源效率刻度,并与使用国产无源效率刻度软件的刻度结果进行对比.比较发现,点源效率刻度上两者偏差为-0.08％ ～5.64％,体源效率刻度上两者偏差为3.95％～ 16.94％,均在可接受的范围内.实验表明:该软件用于HPGe探测系统进行效率刻度是可行的,可作为实验室γ能谱分析的辅助工具.