首页> 中文会议>第十一届全国蒙特卡罗方法及其应用学术交流会 >一种基于MC的HPGe伽马谱仪无源效率刻度方法

一种基于MC的HPGe伽马谱仪无源效率刻度方法

摘要

采用MCNP5模拟与数学计算相结合,并利用探测器晶体几何的轴对称性,建立一种HPGe探测器的无源效率刻度方法。基于此方法的计算程序在使用过程中完全脱离MCNP5,运算时间约为1s~1min,可实现点源和同轴圆柱体源的效率刻度,能量范围为50keV~3MeV。程序计算结果与实验数据以及MCNP5直接模拟结果比较,误差分别不超过12%和7%,证明方法可行。

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号