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李戈扬; 漆玄;
上海交通大学金属基复合材料国家重点实验室;
硬质薄膜; X射线 ; 测量; 内应力 ; 拉伸法 ;
机译:电镀内应力的测量(11) - 平板的严格测量理论(第3部分:薄层粘附表面照射X射线法)
机译:一种使用X射线测角仪上安装的拉伸机测量薄膜和多层薄膜中泊松比的实验方法
机译:宏观拉曼光谱法玻璃多晶硅薄膜太阳能电池内应力和缺陷密度的统计分析
机译:光学干涉法测量轴对称拉伸中润滑剂薄膜的厚度
机译:体内应力纤维的同时拉伸和收缩
机译:原位 i>通过使用白色X射线微梁的能量分散X射线衍射测量TT600的内应力分布变化
机译:采用部分相干干涉法测量硅薄膜厚度
机译:X射线法直接测量多晶材料蒙皮的宏观宏观应力并测量其实施样品
机译:使用X射线荧光透视法进行薄膜测量,例如用于测量镀锌层的厚度,从而使用于形成X射线检查光束的光阑与要检查的组件的几何形状匹配
机译:由于X射线光谱法,薄膜的固定数量和模数的薄膜厚度测量
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