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存储器的测试技术

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摘要

集成电路工艺的改进使存储器的测试面临着更大的挑战.本文从存储器的故障模型入手着重描述了单端口存储器,字存储器,多端口存储器及存储器组的测试.测试算法和测试策略要在测试时间,故障覆盖率,面积开支之间进行折衷.

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来源
《计量与测试技术》|2005年第4期|25-26|共2页
作者
王健; 李金凤; 边福强; 刘欢;
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作者单位

沈阳化工学院信息工程学院,辽宁,沈阳,110142;

沈阳化工学院信息工程学院,辽宁,沈阳,110142;

沈阳化工学院信息工程学院,辽宁,沈阳,110142;

沈阳化工学院信息工程学院,辽宁,沈阳,110142;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类计算技术、计算机技术;
关键词
存储器测试; 功能故障模型; March算法; BIST;

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