圆锥形光束显微X射线层析法--一种对多相物料进行三维分析的新方法

摘要

随着三维立体分析法的技术和分辨率在最近十年来得到了改进,现在有可能用三维数字空间对多相物料的微观结构进行详细描述.在这方面,三维X射线显微层析法提供了一套独特的成像能力.应用显微聚焦X射线发生器可以达到10μm级的立体分辨率.最近,美国犹他大学安装了一套现代化的圆锥形X光束显微层析系统用于对多相物料进行三维空间的定量分析.该系统可以在直径10 mm的范围内得到2048×2048像素的图像,同时也可以得到某些较大物体(40 mm)的影像.该系统能够处理高密度的物料,密度可以达到8.0 g/cm3.这个独特的仪器可以用于许多三维立体结构的成像,例如,三维解离度分析、过滤过程中床层微孔结构分析和混凝土结构中空气隙的测定.X射线显微层析系统不仅可以进行多相系统的定量分析,而且可以测定结构特性和相连续性.本文描述了这套新系统的最新应用情况,预测了这套先进的分析仪器的潜在应用领域.