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王建峰; 卜天佳; 姚雅萱; 田颖; 任玲玲;
中国计量大学 杭州 310018;
中国计量科学研究院 北京 100029;
氧化石墨烯; 原子力显微镜; 直方图方法; 厚度测量; 材料计量;
机译:云母基底上具有单晶胞厚度的超薄α-MoO_3片的范德华外延
机译:前驱体浓度对云母云母基底上溶胶-凝胶旋涂ZnO薄膜结构和光学性能的影响
机译:通过Langmuir-Blodgett自组装在固态基底上形成氧化石墨烯/石墨烯膜
机译:新型三肽基化合物的合成和抗病毒活性,氧化石墨烯的修饰以及用于电化学生物传感器设备的肽基底物的合成。
机译:挠性基底上单轴应变导电氧化石墨烯薄膜中厚度依赖性的裂纹扩展
机译:在半透明金基底上的超薄云母片的光学可视化
机译:一种测量游离液体薄片厚度的动量平衡方法
机译:涂在地板上的经评定的树脂蜡的适用厚度(被污染状态等)的测量厚度的方法以及使用该方法维护和管理地板细观的方法
机译:在基底上施加贵金属薄膜的方法,包括在基底上产生贵金属的导电和掺杂的底涂层,并将该基底涂层增强至所需的薄膜总厚度
机译:用于半导体生产的基底上涂层的层厚度的测量涉及制备包含两个基底的第一材料的成分,以及在第一基底上沉积第二和第三材料的层
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