安捷伦推出智能VTEP提高无矢量测试技术性能

摘要

安捷伦科技于2006年4月4日宣布推出Agilent Medalist iVTEP（intelligent Vectorless Test Extended Performance，智能无矢量测试技术），可减少对引线框几何形状的依赖程度，针对当前极具挑战的印制电路板组装（PCBA）中遇到的各种器件封装，可改善测试可靠性。