将数学形态学应用于检测芯片机器视觉的研究

摘要

研制检测集成电路芯片的机器视觉系统,采用数学形态学方法对芯片图像进行滤波平滑处理,用于改善芯片图像的质量.结果表明:将数学形态学应用于检测芯片的机器视觉系统,提高了系统的检测速度和检测的准确性,满足了检测流水线对机器视觉系统检测实时性的要求.