Co—Cr—Ta—Mo垂直介质的磁特性及读写特性

摘要

制作了Co-Cr-Ta-Mo垂直磁盘介质，膜的Mo组份为1．3－5．1at%，并对其物性和读写特性进行了测定。添加5．1at%的Mo，使微晶尺寸28nm减小到25nm。在读写特性上，Mo组份在0－3．5at%，输出基本不变，而介质噪声Nm则随Mo的增加线性减少。Mo组份为3．5at%时，S／Nm达到最大值。记录波长为0．34μm时，S／Nm较Co-Cr-Ta膜提高3．2dB。