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基于谢宁DOE的背光灯片内部短路侦测研究

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摘要

谢宁试验设计方法是目前广泛使用的,具有代表性的试验设计方法之一.采用谢宁试验设计的成对(组)比较技术,结合图基检验的方法,针对背光灯片"内部短路"缺陷难以侦测的问题,构建了具体的具有实际操作性的检验侦测手段,并通过实例验证了该方法的有效性.

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来源
《机械制造与自动化》 |2009年第5期|129-132,152|共5页
作者
舒逸; 杜世昌; 奚立峰;
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作者单位

罗杰斯科技苏州有限公司,江苏,苏州,215000;

上海交通大学机械与动力工程学院,上海,200030;

上海交通大学机械与动力工程学院,上海,200030;

上海交通大学机械与动力工程学院,上海,200030;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类光学仪器;
关键词
谢宁试验设计; 成对(组)比较技术; 图基检验; 背光灯片; 内部短路;

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