基于谢宁DOE的背光灯片内部短路侦测研究

摘要

谢宁试验设计方法是目前广泛使用的,具有代表性的试验设计方法之一.采用谢宁试验设计的成对(组)比较技术,结合图基检验的方法,针对背光灯片"内部短路"缺陷难以侦测的问题,构建了具体的具有实际操作性的检验侦测手段,并通过实例验证了该方法的有效性.