考虑检测正确率时成败型元件串联系统可靠性置信下限

摘要

设有K个成败型元件组成的串联系统,第i个元件的可靠性P_i,P_i未知,设对第i个元件试验了N_i次,每次试验是否成功要通过检测才可确定,设检测的正确率为r_i(r_i已知,r_i>1/2),设第i个元件在N_i次试验中经检测被判为成功的次数是S_i(i=1,2,…,K)。本文讨论由诸元件的被判成功数组(S_1,S_2,…,S_K),利用改进的Wintorbottom排序方法计算系统可靠性的经典精确置信下限的方法以及综合诸元件的试验数据,按一、二阶矩拟合的原则将其折合为系统的成败型数据,计算系统可靠性置信下限的近似方法,文中推导了为试验数及伪成功数的计算公式,并给出了具体的计算例子。