成败型元件可靠性的估计及置信下限

摘要

考虑成败型元件，其可靠性随储存时间的延长而有所改变。设在时刻ｔ＝０时元件可靠性为ｐ，在ｔ＝ｔｉ时元件可靠性为ａｉｐ，ａｉ已知，ｉ＝１，２，…，ｐ未知。假设在ｔ＝ｔｉ时进行Ｎｉ次试验，对每次试验是不成功需要用某种方式进行检测才能得知，而检测的正确率为ｒｉ，ｉ＝０，１，ｗ，…，ｋ。