一种利用稀疏统计特性的超分辨ISAR成像方法

摘要

为提高短孔径逆合成孔径雷达的成像分辨率,利用逆合成孔径雷达图像的稀疏统计特性,提出了一种超分辨成像算法.通过结合逆合成孔径雷达像的强稀疏性,对成像过程建立近似的统计概率分布模型.利用最大后验概率及贝叶斯估计方法,推导了稀疏控制参数的显式表达,并通过共轭梯度法优化求解图像.另外,联合恒虚警概率检测和带宽外推技术的步进式成像过程,提高了参数估计和超分辨成像算法的稳健性.