SoC的可测试性设计技术

王永生; 肖立伊; 毛志刚; 叶以正

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SoC的可测试性设计技术

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基于可复用的嵌入式IP(intellectualproperty)模块的系统级芯片 (SoC)设计方法使测试面临新的挑战 ,需要研究开发新的测试方法和策略 .结合系统级芯片的可测试性设计技术所面临的技术难点 ,详细介绍了当前系统级芯片的可测试性设计技术 ,分析了各种系统级芯片的可测试性设计技术的特点及其优缺点 ,着重讨论了国际工业界内针对系统级芯片测试的方案 :IEEEP15 0 0和虚拟插座接口联盟 (VSIA)测试访问结构 .

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来源
《同济大学学报：自然科学版》 |2002年第10期|1271-1276|共6页
作者
王永生; 肖立伊; 毛志刚; 叶以正;
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作者单位

哈尔滨工业大学微电子中心;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类测试和检验;
关键词
SoC; 系统级芯片; 可测试性设计; 测试访问结构; 芯片设计; 芯片测试; 嵌入式IP模块;

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