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缩略术语索引表
目录
第一章绪论
§ 1. 1 SoC嵌入式存储器测试的研究背景及意义
§ 1. 2 SoC嵌入式存储器测试的国内外研究现状
§ 1 .3 本文研究内容
§1.4 本章小结
第二章SoC中嵌入式存储器的基本理论
§ 2. 1 SoC测试规范IEEE 1500标准
§2.2 SoC嵌入式存储器的类型与结构
§ 2. 3 SoC嵌入式存储器的故障模型分析
§ 2 .4 本章小结
第三章SoC嵌入式存器的测试方法及算法分析
§3. 1 SoC嵌入式存储器内建自测试
§3.2 SoC嵌入式存储器的测试算法分析
§ 3. 3 本章小结
第四章基于IEEE 1500标准的存储器测试封装壳和BIST控制器的设计
§ 4. 1 基于IEEE 1500标准的测试壳的设计
§ 4.2 SoC嵌入式存储器BIST控制器的设计
§ 4. 3 本章小结
第五章基于IEEE 1500标准SoC嵌入式存储器的测试指令设计
§ 5. 1 SoC嵌入式存储器的测试指令编码
§ 5. 2 SoC嵌入式存储器的BIST控制器工作流程
§ 5. 3 本章小结
第六草测试验证
§ 6. 1 SRAM的验证证
§ 6. 2 DRAM的验证
§ 6. 3 本章小结
第七章总结与展望
§7. 1 总结本文工作
§ 7 .2 展望后续工作
参考文献
致谢
攻读硕士期间主要研究成果
附录测试系统的原理框图