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SoC的可测试性设计技术

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基于可复用的嵌入式IP(Intellectual Property)模块的系统级芯片(SoC)设计方法使测试面临新的挑战,需要研究开发新的测试方法和策略.结合系统级芯片的可测试性设计技术所面临的技术难点,详细介绍了当前系统级芯片的可测试性设计技术,分析了各种系统级芯片的可测试性设计技术的特点及优缺点,着重讨论了国际工业界内针对系统级芯片测试的方案:IEEE1500和虚拟插座接口联盟(VSIA)测试访问结构.

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来源
《第二届中国测试学术会议》|2002年|479-490|共12页
会议地点上海
作者
王永生; 叶以正; 毛志刚;
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作者单位

中国计算机学会;

中国计量测试学会;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类测试和检验;双极型;
关键词
系统级芯片; 可测试性设计; 测试访问结构; 虚拟插座接口联盟;

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专利

1. SOC可测试性设计与测试技术 [J] . 胡瑜 ,韩银和 ,李晓维 . 计算机研究与发展 . 2005,第001期
2. SoC的可测试性设计技术 [J] . 王永生 ,肖立伊 ,毛志刚 . 同济大学学报（自然科学版） . 2002,第010期
3. SOC芯片的可测试性设计与功耗优化 [J] . 陈志强 ,林平分 ,任威丽 . 电子科技 . 2012,第008期
4. SoC芯片可测试性设计策略的实现研究 [J] . 胡明明 ,王小力 . 电路与系统学报 . 2011,第002期
5. 基于功能的SoC可测试性设计及系统级调试 [J] . 黄嵩人 ,魏敬和 ,虞致国 . 电子器件 . 2008,第004期
6. 5.11基于扫描链的SOC可测试性设计 [C] . 赵斌 ,常青 . 全国第十一届信号与信息处理、第五届DSP应用技术联合学术会议 . 2007
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