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李树荣; 刘真; 张生才; 王静; 郭维廉; 郑云光; 陈培毅;
天津大学电子信息工程学院;
清华大学微电子研究所;
SiGe沟道; SOI结构; 混合模式晶体管; 设计; SOI; MOSFET; 动态阈值电压; 横中双极晶体管;
机译:单晶体管闩锁引起的前沟道和后沟道薄膜SOI晶体管的退化
机译:具有SiGe源极和漏极的高性能超薄体c-SiGe沟道FDSOI pMOSFET:$ V_ {rm th} $调整,可变性,访问电阻和迁移率问题
机译:具有应变工程的改进SOI SiGe异交接线双极晶体管架构的设计与仿真
机译:有效沟道长度为30nm的Si和SiGe垂直双载流子场效应晶体管的制造及其SOI电阻负载切换ASIC
机译:基于N沟道InGaAsP-InP的倒置通道技术器件(ICT)的设计,制造和表征,用于光电集成电路(OEIC):双异质结光电开关(DOES),异质结场效应晶体管(HFET),双极倒置沟道场-效应晶体管(BICFET)和双极型反向沟道光电晶体管(BICPT)。
机译:SiGe P沟道NiSiGe肖特基结的微波退火
机译:应变siGe沟道p-mOsFET:异质结构设计和工艺技术的影响
机译:sOI N沟道场效应晶体管,CHT-NmOs80,适用于极端温度
机译:包括层结构的MOS场效应晶体管,该层结构包括Si层和SiGe层或SiGeC层作为沟道区
机译:通过使用SiGe和/或Si:C进行栅极应力工程来制造体硅和SOI MOS器件中无位错应力沟道的结构和方法
机译:通过使用SiGe和/或Si:C进行栅极应力工程在体硅和SOI CMOS器件中制造无位错应力沟道的结构和方法
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