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王金良; 王天民;
北京航空航天大学理学院材料物理与化学研究中心;
X射线发射光谱法; 硅化物; 价电子能带结构;
机译:软x射线角分辨光发射光谱法研究UPd_3的能带结构和费米表面
机译:软X射线角分辨光发射光谱法研究URu_2Si_2的能带结构和费米面
机译:使用软X射线发射,软X射线吸收和准粒子能带结构计算研究了InN的电子结构
机译:硬X射线光发射光谱法观察半金属Co_2Fe(Ga_(0.5)Ge_(0.5))Heusler合金中价电子结构的原子序依赖性
机译:在先进光源下开发高分辨率软X射线(30-1500 eV)光束线,并将其用于角分辨光发射扩展精细结构的研究。
机译:X射线光发射光谱法测量的非极性A面GaN / AlN和AlN / GaN异质结构的能带偏移
机译:过渡金属硅化物中化学键的X射线发射研究
机译:金属硅相互作用:过渡金属硅化物的电子结构作为金属硅界面研究的基础
机译:碳化硅半导体器件,其制造方法,过渡金属硅化物及其金属膜之间的结的制造方法以及过渡金属硅化物及其金属膜之间的结的制造方法
机译:用超临界流体制备过渡金属硅化物的方法及用其制备的过渡金属硅化物
机译:过渡金属硅化物-Si复合粉末及其制造方法,以及用于制造过渡金属硅化物-Si复合粉末的CaSiy基粉末及其制造方法
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