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李丽君; 吴锦雷;
北京大学电子学系;
金属微粒; 正电子湮没; 薄膜; 缺陷; 介质;
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机译:使用NA-22源的薄聚乙烯薄膜正电子湮没寿命测量方法的研制
机译:通过正电子湮没寿命光谱揭示α-Ag2WO4中缺陷的性质:联合实验与理论研究
机译:正电子湮没寿命谱检测对EP-CU薄膜的行为及其对SIV现象的影响
机译:正电子湮没光谱技术的新开发:从实验设置到高级加工软件
机译:通过正电子湮没寿命光谱和椭圆仪孔隙测定研究的开放孔隙率和孔径分布的介孔二氧化硅膜
机译:正电子湮没寿命谱的电子 - 正电子源的研制
机译:用于测量正电子湮没寿命的装置,调整辐射测量仪的方法,以及辐射测量仪
机译:复合金属纳米微粒胶体,复合金属纳米微粒体,复合金属纳米微粒体的制备方法,复合金属纳米微粒的制备方法以及制备复合金属纳米微粒体的装置
机译:金属纳米微粒复合材料,其制备方法,金属纳米微粒复合薄膜及其制备方法
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