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正电子湮没技术（PAT）的开发与应用（三）：正电子湮没谱寿命谱仪时间...

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来源
《电子器件》 |1990年第2期|12-16|共5页
作者
万玉金; 朱育群;
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作者单位

不详;

不详;

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原文格式 PDF
正文语种 CHI
中图分类电气测量技术及仪器;
关键词
正电子湮没; 寿命谱仪; 程序;

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