串联系统可靠性的两层数据虚拟系统法置信下限

摘要

本文讨论具有r个元件的系统可靠性的置信下限问题。设试验数据是成败型的，分成两层，有系统的试验数据，也有元件的试验数据。本文利用虚拟系统法求出系统可靠性R0白置信下限RLM。本文证明RLM在渐近意义下水平相合，并且其渐近方差达到极小。