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肖年; 徐知三;
不详;
钒; 氧化锗; 掺杂; 玻璃; 缺陷; 氧化硅;
机译:用正电子寿命谱研究未掺杂的Sl-InP中的补偿缺陷和电子辐照引起的缺陷
机译:利用EXAFS和Raman光谱研究碳掺杂引起的Ge2Sb2Te5薄膜的Ge局部结构变化
机译:通过正电子寿命谱和光致发光研究未掺杂GaSb中质子辐照引起的缺陷
机译:用正电子寿命谱研究未掺杂SI-InP中的补偿缺陷和电子辐照引起的缺陷
机译:芯片级互连中电介质中导电行为的研究:Al / SiO2互连中缺陷的检测
机译:在MgOSrO和SiO2掺杂β-TCP中的体内响应和机械性能变化的理解
机译:与羧甲基锗倍半氧化物相比,二氧化锗引起的慢性肾小管间质变化
机译:均匀和调制掺杂半导体结构中的自然缺陷引起的电子散射。
机译:颜料颗粒是具有密集掺杂的二氧化硅层(SiO2)(变体)的二氧化钛,以及具有密集掺杂的SiO2颗粒(变体)的制造方法和使用所述颗粒(纸中的原材料)制造油漆,清漆和纸的方法在上述颗粒的基础上制造或涂覆产品
机译:研究和验证组织中各种频率的乳腺肿瘤的方法是由生理现象引起的,并根据这种变化与mammografiatutkimuksen一起或单独使用,以研究敏感性和特异性
机译:差异的电路布置-极谱等于-以及当前极谱研究的变化
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